TH2851-130XS 精密阻抗分析儀

TH2851-130XS精密阻抗分析儀(yi) 是常州同惠電子采用當前的自動平衡電橋原理研製成功的新一代阻抗測試儀(yi) 器，為(wei) 國產(chan) 阻抗測試儀(yi) 器的高度。

TH2851-130XS精密阻抗分析儀(yi) 改變了傳(chuan) 統國產(chan) 儀(yi) 器複雜繁瑣的操作界麵，基於(yu) Windows10操作係統，實現了全電腦化操作界麵，讓測試更智能、更簡便。

TH2851-130XS精密阻抗分析儀(yi) 也超越了國外同類儀(yi) 器120MHz的頻率瓶頸；解決(jue) 了國外同類儀(yi) 器隻能分析、無法單獨測試的缺陷；中英文操作界麵也解決(jue) 了國外儀(yi) 器僅(jin) 有英文界麵的尷尬；采用單測和分析兩(liang) 種界麵，讓測試更簡單。

快達2.5ms的測試速度、及高達100MΩ的阻抗測試範圍可以滿足元件與(yu) 材料的測量要求，特別有利於(yu) 低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀(yi) 器向下擴展了十倍。

A. 高精度

寬帶自動調零型自動平衡電橋技術的應用，得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-50MΩ的阻抗範圍內(nei) 都能達到理想的10%測量精度，其中精度達0.045%，遠遠高於(yu) 射頻反射測量法的阻抗分析儀(yi) 、網絡分析儀(yi) 的精度。

B. 高穩定性和高一致性

下圖是在速度5、測試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C. 高速度

D. 10.1寸大屏，四種測量參數，讓細節一覽無遺

10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10係統、中英文操作界麵，支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫(lun) 比的操作便捷性。

大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂(luan) ，同時可以顯示四種測量參數，四種測量參數任意可調。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數

E. 增強的列表掃描功能

可以最多設置1601點的列表掃描，每個(ge) 點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F. 強大的分析圖形界麵

最多可以4通道同時顯示，每個(ge) 通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

G. 分段掃描功能

分段掃描是在一個(ge) 掃描周期內(nei) ，設置不同的頻率分段進行掃描，掃描時可設置不同的電平及偏置，掃描結果直接圖形顯示，用於(yu) 需要快速篩選多個(ge) 頻率段參數的掃描需求。

如晶體(ti) 諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描功能可在特定頻率範圍內(nei) 掃描測量，無需掃描不相關(guan) 頻率

H. 強大的光標分析能力

TH2851係列精密阻抗分析儀(yi) 具有強大的光標分析能力，可以通過光標實現如下功能：

1. 讀取測量結果的數值（作為(wei) 數值或者相對於(yu) 參考點的相對值）

2. 查找曲線上的特定點（光標查找）

3. 分析曲線測量結果，計算統計數據

4. 使用光標值修改掃描範圍以及縱坐標縮放

TH2851 可以在每條曲線上顯示10個(ge) 光標，包括了參考光標。

每個(ge) 光標有一個(ge) 激勵值（坐標係X軸對應的數值）和響應值（坐標係Y軸對應的數值）。

光標查找功能允許搜索下列條件測量點：

I. 強大的圖形分析功能

1） 曲線分選功能

可以對掃描曲線全部或者部分區域的測試值進行合格/不合格判斷，常用於(yu) 諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。

2） 等效電路分析測試

現實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數四種模型、四參數三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用於(yu) 等效 這些器件。

可以通過仿真的等效電路參數值的阻抗擬合曲線與(yu) 實際測量的阻抗曲線進行對比，還可以通過您輸入的參數按照所選擇的模型進行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

3） 晶體(ti) 振蕩器分析（壓電器件分析）

對晶體(ti) 振蕩器進行測量以及性能分析，測量計算後獲取晶體(ti) 的諧振頻率、反諧振頻率、品質因數等重要參數。

同時，對於(yu) 其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發生器、換能器（振子）、聲表麵波器件、電聲器件等都可以測試如靜態電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機械耦合係數等參數。

4） 曲線軌跡對比

曲線軌跡對比用於(yu) 對被測件進行連續測量，所有曲線顯示在同一個(ge) 坐標係中。由下列兩(liang) 種應用：

a) 針對多種不同被測件

對比不同測量條件下的曲線軌跡

設置不同的頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值

b) 針對同一個(ge) 被測件

對比同一個(ge) 條件下測量的多次測量結果重複性

設置不同頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值

J. 介電常數分析（選件）

TH2851係列精密阻抗分析儀(yi) 支持介質材料介電常數、介質損耗分析，需選購測試夾具及分析軟件。

1. 配置

2. TH26077介質材料測試夾具

TH26077電介質材料測試夾具是設計在TH2851上進行準確的介電常數及介質損耗測量的夾具。通過使用平行板方法測量固態材料的介電常數，從(cong) 而消除離散電容。

1） 外形結構

2） 基本參數

3） 測試原理

4） 介電常數公式

3. 介電常數分析軟件

該軟件為(wei) 選件，開通後在TH2851界麵直接選擇對應的參數即可，分別可以單測、列表掃描、曲線掃描，下圖為(wei) 曲線掃描界麵。

K. 磁導率分析

TH2851支持磁性材料磁導率測試，在主機的基礎上，需選配測試夾具及磁導率分析軟件，具體(ti) 配置如下：

1. 配置

2. 測試夾具

1）TH26086轉接底座

用於(yu) 將4端對轉換成N型7mm底座，適配其他測試夾具如TH26088磁導率測試夾具。

TH26086為(wei) 必選項，若未選購，TH26088將無法正確測量。

技術參數

2）TH26088磁導率測試夾具

TH26088可精確測量環形磁性材料的磁導率。由於(yu) 該夾具的結構是環形線圈繞一圈（無漏磁），因此不需要繞環形線圈的導線，而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個(ge) 小型和一個(ge) 大型夾具，適應各種尺寸，是測量磁性材料的理想結構。

技術參數

3. 測試原理

1） 磁導率基本概念

2） 有效磁導率

采用電感測量法測量，在環形磁芯的磁芯上纏繞導線，並放置在一個(ge) 密閉的圓柱形空間內(nei) （TH26088夾具），通過阻抗分析儀(yi) 測量導線兩(liang) 端的電感（自感），根據測試電感量及下列公式推導出有效磁導率。

3） 相對導磁率

4. 磁導率分析軟件（選件）

選擇開通磁導率分析軟件之後，儀(yi) 器便可以在單測、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導率參數，直接在界麵顯示測試結果

L. 標配附件

M. 選配附件