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當前位置:首頁 > hth体育赞助 > 自動測試係統ATE > 微弱信號類自動測試係統 > TH300-Cap 多通道電容器漏電流測試解決(jue) 方案
產(chan) 品分類CLASSIFICATION
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詳細介紹
一.電容器漏電流相關(guan) 知識
電容器是儲(chu) 存電量和電能(電勢能)的元件,在兩(liang) 個(ge) 導體(ti) 間夾一層不導電的絕緣介質,就構成了一個(ge) 基本電容器,不同種類的絕緣介質,決(jue) 定了電容器的容量及承受電壓能力。
電子電路中,電容器在調諧、旁路、耦合、濾波等電路中起著重要的作用。
1. 電容器漏電流產(chan) 生的原因
在電容器兩(liang) 端加上電壓時,電容器就會(hui) 儲(chu) 存電荷,但是,電容介質不可能絕緣,當電容加上直流電壓時,電容器會(hui) 有漏電流產(chan) 生。
2. 電容器漏電流的危害
大電容,尤其是電解電容、鉭電容、陶瓷電容(大容量)電容量通常較高,通常用在電氣設備的電源供應器、開關(guan) 電源及直流-直流轉換器中,在交流電整流電路用作平滑及緩衝(chong) 直流信號。
電容器漏電流會(hui) 隨著溫度的增加而增加,也會(hui) 隨施加電壓的增大而增大,因此,電器產(chan) 品在使用時的可靠性高低主要取決(jue) 於(yu) 該產(chan) 品的漏電流大小和高溫時該產(chan) 品的漏電流變化率。
特別是在無電阻保護的低阻抗開關(guan) 電源電路和大功率脈衝(chong) 充放電電路裏使用時,該產(chan) 品的上述特性將對電路可靠性影響非常大,幾乎是決(jue) 定性的。
因為(wei) 此類電路中存在頻繁的浪湧電壓和浪湧電流,耐壓不夠和高溫時漏電流變化大的產(chan) 品根本不能承受浪湧衝(chong) 擊,瞬間就有可能被擊穿而失效或爆炸。
3. 電容器漏電流正確測量基礎知識
由於(yu) 不同介質特性及環境因素存在,自然界中不存在純淨的電容器,通常一個(ge) 電容器由不同的部分組成,如圖1
測試漏電流時,是在電容器兩(liang) 端施加直流電壓Vs,然後用電流表測試通過電容器的電流,如圖2,由於(yu) 雜質的存在,實際電流有三個(ge) 部分組成。如圖3
由圖可見,實際上在測試的時候,測試的是總電流,而這總電流有三個(ge) 分量,三個(ge) 電流分量分別是:
1) Ip:流過絕緣電阻Rp的漏電流,也叫傳(chuan) 導泄漏電流。
流過絕緣層、導體(ti) 之間或從(cong) 導體(ti) 到地的電流。該電流隨著絕緣的惡化而增加,並在Id介質吸收電流(見圖 4)消失後占主導地位。因為(wei) 它相當穩定且與(yu) 時間無關(guan) ,所以這是測量絕緣電阻的最重要的電流。
2) Ic:電容充電電流
電容兩(liang) 端施加直流電壓時,對電容器進行充電的電流,為(wei) 瞬時電流,在電容兩(liang) 端電壓充至測試電壓後下降。
低容量電容器,電容充電電流Ic高於(yu) 傳(chuan) 導泄漏電流Ip,但通常在我們(men) 開始記錄數據時就消失了。因此,在記錄之前讓讀數提前穩定很重要。
高容量電容器,電容充電電流Ic可能會(hui) 持續很長時間才能穩定下來。
3) Id:介質吸收電流
由介電材料內(nei) 分子極化引起的電流,介電材料吸收分量由Rd和Cd,通常生成多個(ge) 時間常數(Rd×Cd)。
該電流最初很高,電流幅度與(yu) Rd 的值成反比,回逐漸呈指數衰減至0.
高容量電容器或容性設備以及潮濕汙染的絕緣時,電流下降時間會(hui) 很慢。
4. 電容器漏電流的計算
電容器漏電流通常按國際或國內(nei) 流行標準,可通過下列公式計算:
在電容器充電2分鍾即120s之後
I=kCV
k:固定係數,0.01-0.03,通常0.03為(wei) 民用標準,0.01為(wei) 標準
C:標稱容量
V:電容器基本電壓
以一個(ge) 25V耐壓1000μF電容器為(wei) 例,其漏電流為(wei)
民用標準:
標準:
二.電容器漏電流測試痛點
由電容器漏電知識部分可以了解到,電容器漏電流測試非常重要,但是在測試的時候往往會(hui) 由下列痛點:
1. 測試效率低下,每個(ge) 產(chan) 品至少需要1分鍾-2分鍾時間,在大規模使用大容量電容器時,沒有足夠時間進行全檢。
2. 市場上常見的群電容漏電流解決(jue) 方案,測試結果不夠精確,數據無法一一記錄及統計。
3. 大部分多個(ge) 電容漏電流解決(jue) 方案,無法實現和自動化產(chan) 線係統集成。
三.電容器漏電流快速測試解決(jue) 方案
同惠電子在元器件檢測行業(ye) 默默耕耘了三十年,始終秉承為(wei) 客戶服務的宗旨,對於(yu) 此類痛點,有著高效、精準、完善的解決(jue) 方案。
1. 方案概述
電容器漏電流檢測效率不高的原因及解決(jue) 方法有下列幾個(ge) :
序號 | 原因 | 解決(jue) 方法 |
1 | 電容器充電時間長,至少需要60s-120s | 采用預充電方式,提前將電容器充滿,係統繼續進行測試 |
2 | 隻能單台檢測 | 采用多路掃描法或多路並行電流采樣模塊, |
3 | 漏電流測試儀(yi) 器測試速度慢 | 采用高采樣率電流采樣模塊 |
4 | 電容器封裝不同,插拔速度較慢 | 設計不同工裝,提前裝好器件,多個(ge) 一起測試 |
因此,同惠解決(jue) 電容器漏電流快速測試方案特點如下:
l 采用並行測量法,提高整體(ti) 測試效率
l 電容器預充電,以保證測試效率
l 測試通道:40或根據需求定製
l 預充電電源:電壓:0-650V,根據電容器規格、測試通道定製
l 預充電電流:0-50mA/通道,可定製
l 漏電流測試範圍:0.1nA-20mA,分辨率0.1nA
l 漏電流測試精度:0.5%
l 測試工裝,根據需求定製,可兼容多種規格電容器,方便更換治具頭及批量插裝電容器
整體(ti) 結構如圖:
2. 係統結構
3. 測試治具
l 測試工裝
可根據不同封裝、不同尺寸電容器定製
l 控製單元
負責測試治具和測試模組之間連接線纜的切換,這樣的好處是在更換不同封裝、不同型號產(chan) 品進行測試時,無需插拔各種連接線,直接更換產(chan) 品即可。在實際應用中達到快速、方便、簡潔的操作,提高作業(ye) 效率、產(chan) 出目的。
l 測試線纜
為(wei) 了抑製幹擾獲得微小電流的準確測量,本係統連接用件采用三同軸連接器和線纜。
4. 軟件架構
5. 軟件頁麵
測試軟件采用同惠ATE通用框架,根據不同產(chan) 品或不同測試需求會(hui) 有相應更改。
l 測試主頁麵
n 測試主頁-菜單
n 測試主頁-型號清單
n 測試主頁-測試結果
電解電容漏電流測試
鉭電容漏電流測試
陶瓷電容漏電流測試
電流模塊技術參數
產(chan) 品型號 | TH2550T | |
測量分辨率 | 61/2位 | |
電流測量 | ||
量程 | 精度 | 分辨率 |
20pA | ±(1%+5fA) | 0.1fA |
200pA | ±(0.5%+5fA) | 0.1fA |
2nA | ±(0.2%+50fA) | 1fA |
20nA | ±(0.2%+3pA) | 10fA |
200nA | ±(0.2%+5pA) | 100fA |
2μA | ±(0.1%+50pA) | 1pA |
20μA | ±(0.05%+500pA) | 10pA |
200μA | ±(0.05%+5nA) | 100pA |
2mA | ±(0.05%+50nA) | 1nA |
20mA | ±(0.05%+500nA) | 10nA |
測試端子 | ||
電流輸入 | 三軸BNC | |
接口 | ||
通訊接口 | USB DEVICE | |
環境溫度與(yu) 濕度 | ||
使用溫濕度 | 0°C - 45°C,30 % - 80 %,無冷凝 | |
存放溫濕度 | -20°C - 60°C,10 % - 90 %,無冷凝 | |
精度保證 | 23℃±5℃, 30%-80%RH | |
預熱時間 | 1小時 | |
環境溫度變化 | 自校準後小於(yu) ±3℃ | |
校準周期 | 1年 |
整套測試係統配置清單
序號 | 配件名稱 | 型 號 | 單位 | 數量 | 備注 |
1 | 工控主機 | 台 | 1 | ||
2 | 鍵盤、鼠標、顯示器 | 套 | 1 | ||
3 | 多通道高精度電流采集模塊 | 台 | 10通道/台 | ||
4 | 可編程直流電源 | 台 | 1 | 根據電壓電流選型 | |
5 | 測試治具 | 套 | |||
6 | 係統機櫃 | 台 | 1 | ||
7 | 係統軟件 | 套 | 1 | ||
8 | |||||
9 | |||||
10 | |||||
標配 | |||||
配件名稱 | 型號 |
選配 | |||||
配件名稱 | 型號 |
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