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精密LCR器

簡要描述:E4980B精密LCR器,20 Hz至2 MHz
為(wei) 廣泛的零部件測量提供了精確度、速度和多功能性的最佳組合

  • 產品型號:E4980B
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-10-12
  • 訪  問  量:316

詳細介紹

品牌KEYSIGHT/美國是德產地類別進口
類型其他應用領域綜合

E4980B精密LCR計,20 Hz至2 MHz

為(wei) 廣泛的零部件測量提供了精確度、速度和多功能性的最佳組合

強調

頻率

  • 20 Hz至2 MHz,可在任意範圍內(nei) 使用四位分辨率

基本準確度

  • 基本精度為(wei) 0.05%,在低阻抗和高阻抗下具有精確的測量重複性

直流偏壓

  • 直流偏置增強(Keysight選項001)

更多功能

  • 20 VRMS測試信號(Keysight選項001)

  • 5.6毫秒的高速測量

  • 201分列表測量掃描

  • 多功能PC連接(LAN、USB和GPIB)

Keysight E4980B精密LCR測量儀(yi) 集精度、速度和多功能於(yu) 一身,可用於(yu) 廣泛的元器件測量。E4980B是元器件和材料的一般研發和製造測試bi不可少的工具,可在低阻抗和高阻抗範圍內(nei) 提供快速的測量速度和性能。

多功能LAN、USB和GPIB PC連接可提高您的設計和測試效率。對於(yu) 材料測量,E4980B與(yu) Keysight N1500A-005/006材料測量套件配對可簡化從(cong) 夾具設置到生成報告的測量過程。

主要技術指標

下載技術資料
最大頻率
目標DUT
類型
2兆赫
通用裝置
材料
不適用
查看更多 
最大頻率:
2兆赫
目標DUT:
通用裝置
材料
類型:
不適用

E4980A精密LCR測量儀

宣傳(chuan) 冊(ce)

一種工業(ye) 標準LCR儀(yi) 表

Keysight E4980A 精密型 LCR 表為(wei) 各種元器件測量提供了精度、速度和多功能性的最佳組合。E4980A 在低阻抗和高阻抗範圍內(nei) 都能提供快速的測量速度和出色的性能,是元器件和材料的一般研發和製造測試的zhong極工具。

測量速度快

E4980A提供出色的速度:

- 5.6 毫秒(短暫) 2

- 88 毫秒 (MED) 2

- 220 毫秒(長) 2

精確的測量

在低阻抗和高阻抗下具有極低的噪聲,用於(yu) 評估電感器的特性和

電容器具有優(you) 異的精度和重複性。

-0.05%基本阻抗精度

- 1/2/4米電纜延伸能力

- 打開/關(guan) 閉/負載校正

主要特性

精確的測量

在低阻抗和高阻抗下均具有極低的噪聲,以提高測試質量。

-0.05%基本阻抗精度

- 開放/短缺/負載補償(chang) 支持

-電纜延伸部分(1/2/4米)支承

測量速度快

快速的速度提供了更多的吞吐量,降低了測試成本。

- 5.6 毫秒(短暫)

- 88 毫秒(MED)

- 220 毫秒(長)

測量通用性

-測試頻率為(wei) 20赫茲(zi) 至2 MHz,可在任意頻率下使用4位分辨率

—16個(ge) 阻抗參數

-100μV至2 Vr ms,1μA至20 mA-可變測試信號

-自動水平控製

- 可編程列表chou獎201分

選項E4980A-001功率和直流偏置增強

- 0至20伏特/100毫米臂測試信號

-內(nei) 置40伏直流偏置,分辨率為(wei) 0.3毫伏

-內(nei) 置10伏直流電源

-直流電阻、直流電流及直流電壓測量能力

高精度、快速測量,最高可達2 MHz

精確的測量結果為(wei) 設計和測試提供了可靠性

廣域阻抗測量

E4980A LCR測量儀(yi) 在所有阻抗測量中均具有出色的性能。要滿足當今最新設備的測試要求,需要可靠的測量性能。隻有E4980A能夠在“同時"低阻抗和高阻抗範圍內(nei) 提供快速的測量速度和出色的性能,並具有出色的耗散因數精度。

穩定的小ESR/低阻抗測量

電容器的等效串聯電阻(ESR)正變得越來越小,以滿足高速和低功耗電路的需要;而且測量困難,E4980A提供了出色的測量穩定性。

極其精確的高阻抗測量

芯片電容和半導體(ti) 芯片的電容值現在已降至fF(fF)範圍。因此,需要非常穩定和精確的高阻抗測量,以提高收率和設計可靠性。E4980A超越Keysight之前的行業(ye) 標準LCR測量儀(yi) (4284A),進一步提高了這些小電容器件的測量穩定性。

提供業(ye) 界最佳的速度和準確性組合

快速的測量速度,提高製造業(ye) 的吞吐量

- 在1 MHz時,在短模式下,每點5.6毫秒

- 在1 MHz時,在MED模式下每點88毫秒

- 在1 MHz時,在長模式下每點220 ms

平均函數(最高可達999)

使用戶能夠提高測量的重複性。

多功能測量功能,滿足您的應用需求

強大的功能提高了測試的可靠性和效率

六種便捷的顯示模式

選擇六種顯示模式之一,以滿足您的特殊測量需求。

-數據概覽的正常視圖

-大顯示視圖,提高可讀性

- BIN 編號視圖,用於(yu) 測量比較和設備分類

- BIN計數視圖,用於(yu) 統計評估

- 列表掃描視圖以查看連續數據

- 空白頁麵視圖,實現ji致速度

(關(guan) 閉顯示以節省刷新時間。)

201分名單大獲全勝

頻率、測量範圍和刺激條件,可設置為(wei) 列表參數(最大201點),可獨立選擇兩(liang) 個(ge) 參數在多種測量條件下進行測試。

直流電阻測量

對於(yu) 電感測量,可以同時測量Ls或Lp和RDC參數。

E4980A功率和直流偏置增強

(備選E4980A-001)

20 VRMS測試信號(Opt.001)

強大的交流測試信號可提供高達20 Vrms,100 mArms(最大值)。這使您無需外部放大器即可評估交流電平依賴性。直流參數測量(Opt.001)

同時測量直流電壓和直流電流以及阻抗。泄漏電流測量可用於(yu) 電容評估。

40伏直流偏置(選件001)

內(nei) 置的寬範圍(±40 Vdc/100 mA)直流偏置源可實現對直流偏壓與(yu) 阻抗的精確評估。

直流電源(選件001)

提供額外的獨立DC源端口,以擴展DC控製和偏置應用的靈活性。例如,此選項可測量三個(ge) 終端設備,使您可以同時控製您的DUT、添加額外偏置並控製其他設備。

阻抗測量手冊

應用文章 

阻抗測量數據可幫助工程師設計需要特定電阻、電容和電感值才能實現最佳性能的電路和係統。為(wei) 了最大限度地傳(chuan) 輸功率並減少射頻(RF)設備中的反射,工程師必須使RF鏈中的每個(ge) 組件的阻抗匹配。

 

什麽(me) 是電阻抗?

工程師使用阻抗測量來表征電子電路、元件和材料。在射頻應用中,工程師通常定義(yi) 阻抗(Z),在矢量平麵上以複數表示,作為(wei) 設備或電路在給定頻率下對交流電(AC)流的總阻抗。工程師根據所需的測試頻率、阻抗參數和優(you) 選的顯示參數選擇特定的阻抗測量技術。

 

本應用說明展示了參考解決(jue) 方案,其中包括目前可用的產(chan) 品和已停產(chan) 和/或過時的產(chan) 品,以利用Keysight的阻抗測量專(zhuan) 長滿足特定應用要求。無論您從(cong) 事何種應用或行業(ye) ——從(cong) 電路設計和信號完整性到製造或生物醫學應用——Keysight均可提供zhuo越的性能和高可靠性,讓您在進行阻抗測量時充滿信心。

 

本文從(cong) 阻抗測量的基礎知識開始,首先定義(yi) 了阻抗和阻抗參數、阻抗測量的基礎知識以及無源元件的理論和自然行為(wei) ——包括寄生和理想、實際和測量值。

 

阻抗矢量由實部(電阻,R)和虛部(反應性,X)組成。我們(men) 用矩形坐標形式R+jX或極坐標形式表示阻抗的幅值和相位角:|Z|_θ。在某些情況下,使用阻抗的反比證明在數學上是有利的。因此,1/Z=1/(R+ jX) =Y=G+jB,其中Y表示導入、G導和B受力。阻抗測量用歐姆()為(wei) 單位,而導納測量用西門子(S)。阻抗被證明特別有用,用R和X的簡單和來表示電阻和電抗的串聯連接。導通率更好地表示並行連接。

 

反應性有兩(liang) 種形式:電感(XL)和電容(Xc)。根據定義(yi) ,XL=2πfL和Xc=1/(2πfC),其中f表示感興(xing) 趣的頻率,L表示電感和C電容。用角頻率(ω:ω)替換2πf來表示XL=ωL和Xc=1/(ωC)。類似的對等關(guan) 係也適用於(yu) 接受和接納。

 

根據這些定義(yi) ,應用說明擴展了組件依賴因素(如測試、測試信號電平、直流偏置和溫度)以及常見組件(如電容和電感)的等效電路模型。

 

如何測量阻抗?

在定義(yi) 了術語和阻抗參數之間的關(guan) 係之後,本文介紹了阻抗測量的基本原理。考慮到阻抗的複雜性質,要找到阻抗,我們(men) 至少需要測量兩(liang) 個(ge) 值。許多現代阻抗測量儀(yi) 器測量阻抗矢量的實部和虛部,然後將它們(men) 轉換成所需的參數,如|Z|、θ、|Y|、R、X、G、B、C和L。

 

本文詳細介紹了阻抗測量電路模式、測試儀(yi) 器、三元件等效電路和複雜元件模型以及常用的測量方法,包括:

  • 橋梁阻抗測量

  • 共振阻抗測量

  • I-V阻抗測量

  • 射頻I-V阻抗測量

  • 網絡分析測量

  • 自動平衡橋阻抗測量

 

橋式阻抗測量方法在標準實驗室中很常見,它以較低的成本提供較高的精度。然而,橋式阻抵抗測量需要手動平衡,並且隻提供較窄的頻率覆蓋範圍,隻能使用單台儀(yi) 器。

 

諧振阻抗測量在高Q值時具有良好的Q值精度,但需要調諧才能實現諧振,而諧振阻值測量方法也存在阻抗測量精度低的問題。

 

I-V阻抗測量可實現對接地器件的測量並兼容探針式測試需求。因此,使用接地器件中的開發人員更喜歡這種方法。然而,使用I-V阻值測量方法時,探針變壓器限製了工作頻率範圍。

 

射頻I-V、網絡分析和自動平衡橋阻抗測量方法最shi合從(cong) 事射頻元件表征的工程師。射頻I-V阻抗測量在高頻下具有高精度和寬阻抗範圍(m至M)。不過,與(yu) I-V阻抗測量方法一樣,測試頭中使用的變壓器限製了工作頻率範圍。

 

網絡分析阻抗測量方法涵蓋了從(cong) 低頻(LF)到射頻的頻率範圍,並且在未知阻抗出現在特征阻抗附近時具有良好的精度。不幸的是,網絡分析儀(yi) 在改變測量頻率後需要重新校準,並且隻允許狹窄的阻抗測量範圍。

 

自動平衡電橋阻抗測量提供從(cong) 低頻到高頻(HF)的廣泛頻率覆蓋範圍,同時在寬阻抗測量範圍(m到100M的量級)上保持極其高的精度。它們(men) 還能夠像I-V方法一樣進行接地器件測量,但缺乏對高頻範圍測試的支持。

 

用什麽(me) 儀(yi) 器測量阻抗?

本文進一步探討了射頻 I-V 阻抗測量、網絡分析和自動平衡電橋阻抗測量背後的理論,特別是考慮到它們(men) 與(yu) Keysight 各種解決(jue) 方案的相關(guan) 性,包括電容計、LCR 計、阻抗分析儀(yi) 和網絡分析儀(yi) 。

 

LCR計和阻抗分析儀(yi) 主要在顯示特性上有所不同。LCR計顯示數字數據,而阻抗分析儀(yi) 器顯示數字或圖形格式的數據。另外,標準的VNA提供從(cong) 測量的S參數數據計算阻抗的功能,盡管Keysight ENA係列網絡分析儀(yi) 支持在單一平台上進行阻抗和網絡分析的各種應用。

 

我們(men) 對阻抗測量解決(jue) 方案的討論包括:電阻圖、實用儀(yi) 器的運行原理、關(guan) 鍵測量功能、固定和布線以及測量誤差補償(chang) 。

 

阻抗測量的係統配置是什麽(me) ?

通常,用於(yu) 阻抗測量的係統使用以下組件:

 

  1. 阻抗測量儀(yi)

  2. 電纜和適配器接口

  3. 試驗夾具

 

最後,本應用說明最後提出了各種應用中阻抗測量增強的建議,包括:

 

  • 電容器

  • 電感器

  • 變壓器

  • 二極管

  • MOSFETs

  • 電池

 

閱讀本手冊(ce) ,以找到滿足阻抗測量需求的最佳測量方法和儀(yi) 器。


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