本文檔提供了Keysight Technologies，Inc.E4981A電容計的規格和補充信息。所有規格適用於(yu) 0°C至45°C溫度範圍內(nei) 的條件，除非另有說明，並在儀(yi) 器已打開30分鍾後。

目錄

• 定義(yi) 和規格

• 測量顯示範圍

• 可用測量範圍

• 可用測量範圍

• 可用測量範圍

• 環境溫度超過18～28°C範圍時的精度（典型值）

• 施加交流磁場時的精度

• 測量精度

• 補充資料

• 測量信號

• 測量時間

• 顯示時間

• 測量數據傳(chuan) 輸時間

• 測量輔助功能

• 一般規格

• 電磁兼容、安全、環境和合規性

• 電磁兼容、安全、環境和合規性

• 測量精度的樣本計算

• 樣品

• 當測量參數為(wei) Cp-D（或Cs-D）時

• 當測量參數為(wei) Cp-Q（或Cs-Q）時

• 當測量參數為(wei) Cp-G時

• 當測量參數為(wei) Cp-Rp時

• 當測量參數為(wei) Cs-Rs時

介紹

今天，元器件製造商需要更高的生產(chan) 率和元器件產(chan) 量，以便提供更低成本的產(chan) 品，更快的交貨和更高的可靠性，以與(yu) 非常激烈的競爭(zheng) 競爭(zheng) 。因此，大多數元器件生產(chan) 商需要使用掃描儀(yi) 進行阻抗測試，以提高生產(chan) 率和控製其產(chan) 品的質量。然而，使用掃描器進行測量不同於(yu) 使用普通測試夾具進行測量。有必要減少由於(yu) 延長電纜和掃描儀(yi) 中存在的殘餘(yu) 阻抗而產(chan) 生的測量誤差。本應用說明描述如何采用使用LF LCR計和LF阻抗分析儀(yi) 與(yu) 掃描儀(yi) 的測量係統，以及如何解決(jue) 使用掃描係統時可能產(chan) 生的殘餘(yu) 阻力相關(guan) 的問題。此外，本說明涵蓋了實際的掃描係統實例，如電子元件的溫度特性評估和絕緣電阻測量。

設計掃描係統

本節首先介紹設計掃描係統的關(guan) 鍵點，然後解釋係統

配置、特殊考慮因素，以及為(wei) 處理這些問題而設計的解決(jue) 方案。

審查所需規格

掃描係統的示例如圖1所示。該掃描係統允許一台測量儀(yi) 器通過切換到另一台測量許多被測設備（DUT）。當您設計掃描係統時，您必須選擇掃描器和電纜配置。為(wei) 此，您應澄清對係統的測量要求（規格）。要複核的規格包括測量精度、DUT的阻抗、測試頻率和掃描器通道的數目。所需的測量精度將決(jue) 定掃描係統中允許的最大殘餘(yu) 阻抗和雜散電容。此外，測量值和測試頻率要求由電纜配置決(jue) 定。通道數目決(jue) 定您應選擇的掃描器類型。

選擇電纜配置

掃描儀(yi) 所使用的電纜配置取決(jue) 於(yu) 所要測量的阻抗值，如表1所示，有兩(liang) 種電纜配置可供選擇:四端對（4TP）和屏蔽雙端（2T），使用4TP配置可在寬阻抗和頻率範圍內(nei) 達到最高精度，但由於(yu) 每個(ge) 測量通道需要許多電纜和開關(guan) ，因此硬件成本增加；另一方麵，如果DUT的阻抗大於(yu) 100歐姆，且測量頻率範圍高於(yu) 100 kHz，則可以使用屏蔽2T配置，屏蔽2T配置可讓您以較低的係統成本擁有最大數量的測量通道。