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直流耐壓絕緣電阻測試儀

簡要描述：直流耐壓絕緣電阻測試儀(yi) ST5680EOL
電池的安全測試提供更優(you) 化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質

  • 產品型號：ST5680EOL
  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2024-10-30
  • 訪  問  量：405

詳細介紹

品牌HIOKI/日本日置產地類別進口
類型其他應用領域綜合

直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL

電池的安全測試提供更優化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質

為(wei) 電池的安全測試提供更優(you) 化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質

● 準確檢查絕緣性能，驗證電池和電機質量
● 通過波形和數值顯示有助於(yu) 優(you) 化生產(chan) 工序、對收回的不合格產(chan) 品進行分析、宣傳(chuan) 檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導致微小故障品流出
● 防止誤判導致的複測
● 支持廣泛的國際標準。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測量功能。

  • 直流耐壓絕緣電阻測試儀
    專用於直流耐壓測試的高配置機型

    這是提供更優(you) 化的檢測品質的直流耐壓絕緣電阻測試儀(yi) ST5680EOL的介紹。其性能可以支持各個(ge) 國際標準的測試條件，應對所有的直流耐壓測試。

  • 使用波形和數值驗證絕緣性能【波形顯示功能】

    ST5680EOL是能夠基於(yu) 各種安全標準進行直流耐壓測試和絕緣電阻測試的測試儀(yi) 。
    不僅(jin) 可以進行PASS/FAIL的合格與(yu) 否判定，也可以顯示、記錄測試時的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
    將測試可視化分析，有助於(yu) 檢查的溯源。


    輸出電壓和泄漏電流以波形顯示
    可以通過波形確認測試時輸出電壓或泄漏電流的動向。
    在確認波形的同時，還可按時間順序確認電壓值、泄漏電流值、電阻值。
    無需使用電腦即可進行波形放大顯示等操作，在現場就能進行詳細的分析。

  • 波形顯示的優點

    有助於(yu) 優(you) 化生產(chan) 工序
    通過分析檢查時的波形，可以推斷出生產(chan) 工序中的不良因素。通過查明不良因素，優(you) 化生產(chan) 工序，從(cong) 而能夠提高生產(chan) 效率。
    有助於(yu) 對收回的不合格產(chan) 品進行分析
    可以把收回的不合格品與(yu) 當初出廠檢測時的波形做比對。通過優(you) 化合格品的判定標準，進一步提高生產(chan) 質量。
    有助於(yu) 宣傳(chuan) 檢查的可靠性
    波形的記錄管理有利於(yu) 檢查的可溯源性，構築更高品質的檢查體(ti) 係，可以提升客戶的信任。

  • 防止因電弧放電導致微小故障品流出[【電弧放電檢測功能】

    可以檢測因為(wei) 焊接毛刺或粉塵異物等原因發生的電弧放電。
    將引起輕微絕緣不良的產(chan) 品判斷為(wei) 微小故障品，可以防止出廠後因發熱原因引起的火災事故或故障等風險。

  • 防止誤判導致的複測【接觸檢查功能】

    通過測量端子間的電容（雜散電容、被測物的電容），能判斷是否正確連接檢測對象。


    防止將不合格品誤判為(wei) 合格品
    ・測試中測試線脫落的情況
    ・測試部位間電阻增加的情況
    例：測試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等


    可以輕鬆使用
    ・利用兩(liang) 端子可以實現簡單的接線

  • 適用於電池、電機、電子零件等的耐壓測試

    ST5680EOL是向測試對象輸出高電壓，測試絕緣性能的測試儀(yi) 。可以對從(cong) 電子設備、電子零件、材料等的研究開發到生產(chan) 線的廣泛對象進行安全測試。在電池中，用於(yu) 電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測試。

  • 可以在不考慮電容成分的情況下進行測試

    就算是測試對象含有電容成分的情況下，因為(wei) 有不易發生過衝(chong) 的設計，不會(hui) 對測試對象輸出超過設置電壓的電壓，所以可以放心進行測試。
    另外，通過配合延遲時間的設置，也可以不對充電電流流動的時間進行判斷，從(cong) 而防止誤判。

    ※可測量的最大靜電電容量值200 nF (測量更大的電容值可能會(hui) 導致測量時間變長，或者測量值的偏差變大。 ）

  • 最小分辨率0.001 μA的高精度判定

    隨著電池和電機等絕緣性能的提高，對判斷耐壓測試合格與(yu) 否的電流值設置要求也越來越高，要求設置為(wei) 更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測試儀(yi) ，則無法準確測量泄漏電流的測量值。ST5680EOL實現了最小分辨率0.001uA的高精度規格，因此可以正確測量微小的泄漏電流，判斷合格與(yu) 否。

  • 搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測量功能

    搭載了確認測試對象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。
    以一定速度提高輸出電壓，確認達到絕緣擊穿時的電壓。
    測試方法按標準規定，有連續升壓測試和逐級升壓測試。
    ST5680EOL兩(liang) 種測試都可以實施。可用於(yu) 電池開發時的性能評價(jia) (絕緣耐力評估)。

基本參數（精度保證時間1年）

主要功能

直流耐壓測試、絕緣電阻測試、絕緣擊穿電壓測試、波形顯示功能、ARC放電檢測功能、接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能"表)

功能一覽聯鎖、自動放電、消除偏移、瞬時輸出、命令監控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準期限檢測、EXT SW（遠程控製）
使用溫濕度範圍0°C～40°C，80% RH或以下（無結露）
適合標準安全性：IEC 61010                
EMC：IEC 61326
電源電壓AC 100 V ～ 240 V

功耗

約180 VA※                
※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測試模式直流耐壓測試、測試電壓2.5 kV、負載電流5 mA負載電阻500 kΩ）的情況下。

最大額定功率

800 VA

接口

通訊：USB，LAN，EXT. I/O

選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000）

存儲：U盤

尺寸·重量

305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物）
10.0 kg ± 0.2 kg

附件

電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯鎖解除治具，啟動指南

各測試·功能

直流耐壓測試輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率)                  輸出設置精度：±（1.2% of setting + 20 V）
                 輸出電流/截止電流：20 mA max
                 電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg.
                 最小分辨率：0.001 μA
                 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）
                 電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF
                 短路電流200 mA 以上
                 測試模式W→IR，IR→W，程序測試
絕緣電阻測試

輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率)

                 輸出設置精度：±（1.2% of setting + 20 V）

                 電阻值顯示範圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）
                 精度保證範圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ
                 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格
                 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）
                  電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF
絕緣擊穿電壓測試測試方法：連續升壓測試，逐級升壓測試
                 測量內容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強度（kV/mm）

                 設定內(nei) 容：初始電壓，結束電壓，升壓速度，ARC檢測，電極間距離，電流上限值

                 檢測有效電壓：150V以上

波形顯示功能波形顯示內容：電壓，電流，絕緣電阻
                 采樣速度：500 kS/s
                 內存容量：512 K words
ARC放電檢測功能檢測方式：監視試驗測試電壓的變動

                 設定內(nei) 容：測試電壓變動率1％～50％

                 檢測有效電壓：150V以上

存儲功能

·波形·圖形
保存到U盤
保存格式：BMP、PNG、CSV文件


·麵板保存功能
將測試條件保存在主機內(nei) 存中
直流耐壓測試模式/絕緣電阻測試模式：最多64個(ge)
程序測試：最多30個(ge) （最多50步）
絕緣擊穿電壓測試：最多10個(ge)


·數據存儲(chu) 功能
測量值保存在內(nei) 存，最多32000個(ge)

判定功能（判定輸出）判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL）
UPPER_FAIL：測量值＞上限值
PASS：上限值≥測量值≥下限值
LOWER_FAIL：測量值＜下限值
注記（*1）

環境溫度t不足5℃時加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 

環境溫度t超過35℃時加上±(1% rdg.×(t-35 ) )

絕緣電阻測量精度（*2）（精度保證測試電壓範圍：50 V ~ 2000 V）

測試範圍100 kΩ ～ 99.99 GΩ
10 nA ≦ I ≦ 3 μA100 MΩ ～ 999.9 MΩ
1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ		±(20% rdg.)
100 nA ≦ I ≦ 30 μA10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ
100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ		±(5% rdg.)
1 μA ≦ I ≦ 300 μA1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ
10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ		±(2% rdg. + 5 dgt.)
10 μA ≦ I ≦ 3 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ
1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ		±(1.5% rdg. +3 dgt.)
100 μA ≦ I ≦ 20 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)
注記（*2）

· 測試電壓為(wei) 50 V〜99 V時，測量精度加算±10%

· 測試電壓為(wei) 100 V〜999 V時，測量精度加算±5%

· 測試電壓為(wei) 1000 V〜2000 V時，測量精度加算±2%

· 環境溫度t小於(yu) 5℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) 

· 環境溫度t超過35℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) )

· 測定速度為(wei) FAST2時，測量精度加倍


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