● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值，進行被測物合格與(yu) 否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體(ti) 的測試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
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詳細介紹
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 應用領域 | 綜合 |
|---|
● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值，進行被測物合格與(yu) 否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體(ti) 的測試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體(ti) 不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
概要
規格
選件
相關(guan) 下載
| 測量參數 | Cs,Cp（電容）,D（損耗係數tanδ） |
|---|---|
| 測量範圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各係數 |
| 測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
| 測量信號電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測量範圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 | 5Ω（CV測量範圍以外的開路端子電壓模式時） |
| 顯示 | 發光二級管 （6位表示，滿量程計算器根據量程而定） |
| 測量時間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控製用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1 |
2m長
查看詳情>>數碼打印
查看詳情>>適用於(yu) 打印機9442
查看詳情>>適用於(yu) 9442, 線長:1.5 m
查看詳情>>112mm x 25m, 10卷/盒
查看詳情>>用於(yu) 底部有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5
查看詳情>>用於(yu) 側(ce) 麵有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
查看詳情>>直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm
查看詳情>>DC～8 MHz, 直接連接型
查看詳情>>電纜連接型, DC ～ 5 MHz, 1m長
查看詳情>>線長73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm
查看詳情>>DC～100kHz, 1m長
查看詳情>>最shi用於(yu) 分揀·檢查的電容測試儀(yi) 電容測試儀(yi) 3506-10 ·模擬測量時間0.5ms(1MHz)的高速測量·抗幹擾性提高，微小電容的反複精度大幅提高·使用1MHz穩定測量低容量電容電容測試儀(yi) 3504-60,3504-50,3504-40 · 模擬測量時間1ms(1kHz)可測量定電壓，最shi用於(yu) 測量高容量MLCC ·可測量高達1.45mF的高容量定電壓(120Hz，500mV時) ·3504-60可進行4端子接觸檢查。
3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通優(you) 點共通優(you) 點
■對應JIS C 5101-1的電容測試儀(yi) 3506~3504的測量頻率電容的種類去除電解電容的電容容量範圍C C≤1000pF 1000pF＜C≤10µF測量頻率[Hz]
●記號為(wei) 推薦頻率1M對應機型
● 3506-10 1k ● 120 10µF＜C電解電容
■ BIN功能---C測量根據測量值最多分類為(wei) 14個(ge) 等級※1，易於(yu) 進行分揀等。※1 3506,3505最多為(wei) 13個(ge) 等級。3504-40無BIN功能。
● 120 ○
■ 隻需選擇的簡單操作&LED顯示3504-60 3504-50 3504-40 3511-50 (參考)隻需從(cong) 麵板標記項目中進行選擇，操作簡單。設定好的測量條件會(hui) 點亮，能夠一目了然把握設定條件。
■ 比較器功能第一參數(C)、第2參數(D)可各自設置上下限值。判定結果可進行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設定值始終顯示。
■ 存儲(chu) 功能測量數據可保存在主機。可通過GP-IB，RS-232C讀出。 3506-10 ......................................1,000個(ge) 3504-60, 3504-50, 3504-40 ......32,000個(ge)
■ 觸發同步輸出功能施加觸發後輸出測量信號，僅(jin) 在測量時將信號施加到被測物上。因為(wei) 是在接觸被測物時流過大電流，因此能夠減少接點的損耗。
■可存儲(chu) 99※2組測量條件最多可保存99組測量條件，可迅速對應在重複測量較多的產(chan) 線上切換被測物的情況。可利用EXT I/O讀出任意測量條件。※2 3506-10最多為(wei) 70組。
■標配接觸檢查功能可檢測出測量過程中的接觸錯誤。可另外管理有過接觸錯誤的樣品，對提高成品率做出貢獻。
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