AQ6373E可見波長光譜分析器

橫河測試與(yu) 測量公司的AQ6373E可見波長光譜分析器提供高速、精確的350到1200納米短波長分析。

這款多功能OSA具有三種可供選擇的型號，可滿足各種應用的需求，可加速短波長激光器、無源器件和LED的開發和製造，以及用於(yu) 生物醫學、材料加工、消費品和電信市場的設備。

AQ6373E可見波長光譜分析器

• 適用於(yu) 短波長範圍應用的三種型號:標準型、高分辨率型、有限型

• 波長範圍:350-1200納米（所有型號）

• 波長分辨率

• 標準:0.02納米-10納米

• 高分辨率:0.01 nm-10 nm（從(cong) 350 nm到600 nm的分辨率為(wei) 0.01 nm ）

• 限值:0.1 nm-5 nm

• 波長精度

• 標準:±0.05 nm（633 nm），±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 高分辨率:±0.05 nm（633 nm），±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 限值:±0.05 nm（633 nm），±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 閉合動態範圍

• 標準值： 60 分貝（λ 峰值 ±0.5 nm ）

• 分辨率： 60 dB （λ 峰值 ±0.5 nm ）

• 45 dB （λ 峰值 ±0.5 nm ）

• 敏感度

• 標準:-80 dBm（500 - 1000 nm）

• 高分辨率:-80 dBm（500-1000 nm）

• 限製:-70 dBm（500 - 1000 nm）

• 測量水平範圍

• 標準:100 dB（-80 - +20 dBm）

• 高分辨率:100 dB（-80 - +20 dBm）

• 限製:90 dB（-70 - +20 dBm）

• 最大安全輸入功率:20 dBm（550至1100納米）+10 dBm（400-500至550納米） （總輸入功率）

• 單模、多模和大芯光纖

• 內(nei) 置光學對準光源

• 使用外部參考源進行波長校準

• 各種分析功能，包括VIS的顏色分析

世jie級的光學性能

高分辨率和高動態範圍
良好的單色儀(yi) 實現了高波長分辨率和高閉合動態範圍。憑借單色儀(yi) 更銳利的光譜特性，可以清晰地分離近距離的光譜信號並進行精確測量。

高靈敏度
可以準確、快速地測量微弱的光學信號。

七種靈敏度設置*
靈敏度設置可根據測試應用和測量速度要求進行選擇。
*xian量型號除外

高動態模式
可以通過減少雜散光的影響來提高動態範圍，雜散光是在輸入為(wei) 強光信號時產(chan) 生的。

峰值保持和外部觸發模式
脈衝(chong) 光信號的脈衝(chong) 峰值光譜是可測量的，常用於(yu) 電信係統的傳(chuan) 輸回路測試，也用於(yu) 激光芯片開發初期的低功耗測量，以捕捉脈衝(chong) 信號的峰值功率。

空閑空間輸入
自由空間輸入可在相同的OSA上實現多模和單模光纖，且輸入連接器處的小插入損耗變化提高了測量的重複性。由於(yu) 沒有身體(ti) 接觸，在連接纖維時沒有損壞的結果。該功能支持SM、GI（50/125μm、62.5/125μm）和高達800μm的大芯光纖。

光學輸入結構

快速掃描
憑借良好的單色器、更快的電路和降噪技術，AQ6373E即使在測量來自DFB-LD信號的陡峭光譜時，或在測量來自寬帶光源的低功率信號時，也能實現快速測量速度。

寬幅掃描，高分辨率
200，001個(ge) 數據采樣點在一次掃描中擴展了測量範圍，同時保持高波長分辨率。這使您的測量比使用少量采樣點並需要多次部分測量以覆蓋整個(ge) 波長範圍的傳(chuan) 統係統更容易和更高效。

易於(yu) 精確維護
環境條件變化、振動和衝(chong) 擊對光學精密產(chan) 品（如光譜分析儀(yi) ）的影響將影響光學元件，並最終降低光學性能。使用標準功能，AQ6373E可以在幾分鍾內(nei) 保持其高光學性能，以實現快速開始測量。

光學對準
使用內(nei) 置光源自動對齊單色器中的光路，以保持高性能。

波長校準
用外部光源自動校準光譜分析儀(yi) ，確保波長精度。

內(nei) 置光學對準源
波長校準需要外部光源。需要GI 50/125 m光纖以及定期校準。在某些情況下，光學對準和波長校準功能不能校正光學性能。

縮略圖文件預覽
從(cong) 內(nei) 部和外部存儲(chu) 的數千個(ge) 文件中輕鬆找到特定文件。

USB端口
四個(ge) USB端口方便使用外部設備，如鼠標、鍵盤、外部硬盤和記憶棒。

大屏幕觸摸屏液晶顯示器
響應式高分辨率10.4英寸多點觸控電容觸摸屏使設備操作更加簡單和直觀。更改測量條件、執行分析和更改光譜視圖，就像在操作平板設備一樣。在光譜視中，波形視圖可以通過簡單的點擊和拖動縮放或移動。

高級標記
添加標記以獲得zhi定頻譜的功率密度和集成功率。

頻譜分析
提供多種數據分析功能，涵蓋許多流行的應用:

七條個(ge) 人痕跡
用戶可以通過鼠標直接選擇軌跡，通過同時顯示多軌跡，並在軌跡之間使用最大/最小保持和計算（減除）。

內(nei) 置宏編程
創建自動測試係統，通過遠程接口執行自動測量和控製外部設備。GP-IB和以太網（10/100Base-T）端口可用來通過PC進行遠程控製，並傳(chuan) 輸標準的SCPI兼容（ASCII代碼，符合IEEE-488.2）或專(zhuan) 有的AQ6317兼容命令（模擬模式）。LabVIEW®驅動程序也可用。

麵向DUT的測試應用程序（APP）
應用（APP）模式通過將AQ6373E OSA轉換為(wei) 專(zhuan) 用於(yu) 被測設備（DUT）的機器，簡化了測試過程。APP模式提供了一個(ge) 特定於(yu) DUT的用戶界麵，它可以從(cong) 配置設置導航到測試結果輸出，而無需擔心其他許多OSA設置。AQ6370係列包括多個(ge) 預裝的基本應用，如WDM、DFB-LD和FP-LD測試。該應用程序也可從(cong) 橫河測試與(yu) 測量網站下載。