Keithley 自動化檢定套件 (ACS) 軟件

用於(yu) 特性分析的靈活編程方式

ACS的特點是腳本編輯器，這是一個(ge) 獨立的工具，帶有圖形用戶界麵，用於(yu) 開發Python代碼和TSP®腳本，進行儀(yi) 表控製、數據分析和係統自動化操作。其提供創建和開發 GUI 設計以及管理用戶庫和模塊的直觀方法。

自動化數據收集過程

ACS的晶圓探針自動化選項使您能夠輕鬆將各種常用的半自動或全自動晶片探針台連接到測試設置中，從(cong) 而可以快速捕獲大量數據。此選項包括晶片描述實用程序、具有晶片評等功能的實時晶片圖、暗盒樣品計劃實用程序以及測試後暗盒和晶片查看實用程序。ACS 內(nei) 置的許多工具和功能都可以增強設備的自動檢定能力。

分享測試項目和結果

ACS提供了一組通用的關(guan) 鍵元素，可以跨多種硬件配置工作，從(cong) 而減少了時間並提高了生產(chan) 率。係統從(cong) 一個(ge) 硬件到另一個(ge) 硬件實現的執行是一致的，因此，例如，很容易將用於(yu) 單設備組件表征的基礎ACS係統的你的測試結果轉移到另一個(ge) 設計用於(yu) 晶圓級測試的係統。

限度地提高 Keithley 硬件的生產率

ACS中的工具簡化了測試開發流程，限度地提高了與(yu) 係統相連的每個(ge) Keithley儀(yi) 器的速度。ACS 和 Keithley 基礎TSP的硬件一起提供了業(ye) 界的吞吐量，從(cong) 而降低了測試成本，不需要您在獲得實現目標所需的數據之前花時間學習(xi) 新的編程概念或語言。

• 專為封裝器件（MOSFET、BJT、IGBT、二極管、電阻器等）設計
• 豐富的測試庫，無需編程即可快速輕鬆地設置和執行測試
• 內置數據分析工具，可快速分析參數數據
• 使用自動硬件管理工具簡化儀器配置

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查看 ACS 基本版數據表

• 支持以下測試模塊：GUI、Lua Script、Python 和 C 語言
• 支持各種儀器和探頭，以適應廣泛的應用
• 直觀的 GUI 簡化了 I-V 測試、分析以及從台式測試儀到全自動參數測試儀的結果，以增強用戶體驗
• 在設備、子站點、站點、晶片和暗盒級別開發和執行測試，以提高測試能力

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查看 ACS 標準版數據表

• 係統配置包括 2 到 44 個通道
• 符合 JEDEC 標準的綜合測試套件
• 針對新興技術和成熟技術進行了優化
• 同時支持順序測試和並行測試
• 全自動化的單站點和多站點能力
• 兼容所有常用的晶片探頭測試台
• 實時繪圖和晶片繪製

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查看 ACS WLR 版數據表

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軟件的維護通過維護許可證進行。維護許可證可延長軟件的 維護期，以便能持續進行軟件更新。作為(wei) 軟件本身價(jia) 格的 一部分，維護是在發布新功能時保持軟件得到更新的方式。鑒於(yu) 訂閱已包括整個(ge) 訂閱期內(nei) 的維護，該許可證 僅(jin) 適用於(yu) 性許可證。維護許可證應在維護過期之日或之前應用， 這樣才能接收到不間斷的軟件更新。如果維護確實過期了，通過購買(mai) 足以 從(cong) 過期之日接上並延長的許可證 即可輕鬆延長維護期。與(yu) 購買(mai) 的版本相比，以此方式續訂維護 可確保以較低的價(jia) 格獲得更新的軟件。

注： 性許可證包括一年維護，但是一年後， 每 12 個(ge) 月將要求使用新的維護許可證才能繼續接收更新。

從實驗室到晶圓廠的應用

ACS基礎版集成測試係統是參數化揀選、高功率半導體(ti) 器件檢定和晶片級可靠性測試等應用的完整解決(jue) 方案。當配合適合的半自動和全自動探針台，它們(men) 的硬件配置和測試項目開發可以很容易地針對特定的任務進行優(you) 化。

使用 Keithley 高功率係統 SMU 儀(yi) 器和 ACS 基礎版軟件測試功率半導體(ti) 設備的應用指南

ACS 多站點並行測試集成測試係統應用指南

Increase Reliability Throughput

Reliability tests improve quality, reduce failure rates, ensure high yields, and increase confidence. ACS Software supports Shared Stress methodology for high volume reliability testing, accelerating test times. 

Shared Stress Reliability Testing with ACS Application Note

Ultra-Low Resistance Measurements using Delta Mode

The 2182A/622X combination is well suited for many nanotechnology applications because it can measure resistance without dissipating much power in the device under test (DUT), which would otherwise invalidate results or even destroy the DUT. Perform Delta Mode tests with ACS Software to incorporate these sensitive measurements into a test system.

Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A

用於(yu) GaN HEMT I-V 特性分析的電源時序

由於(yu) GaN HEMT的“常開"特性，在進行I-V特性分析時需要一個(ge) 特定的電源時序。ACS軟件支持在不破壞器件本身的I-V特性的情況下，對器件的GaN HEMT特性進行電源時序測試。

GaN HEMT 檢定的電源時序應用指南

服務於半導體工作流程中的應用

ACS Basic Edition 和 ACS Standard Edition 軟件在整個(ge) 半導體(ti) 工作流程中均用於(yu) 對半導體(ti) 器件進行廣泛的測試，以獲得詳細的檢定。整合 ACS Basic 和 ACS Standard 的測試係統可提供：

• 在設備、晶圓和暗盒級進行測試
• 靈活的配置、軟件和應用程序定製
• 交互式和自動化係統操作
• GUI 和腳本工具的強大組合，用於測試模塊開發

開發階段

ACS Basic Edition 軟件於(yu) 組件和分立（封裝）半導體(ti) 器件的參數測試。該軟件運用以下特點，限度地提高了技術人員與(yu) 工程師在研發方麵的生產(chan) 力：

• 專為封裝器件（MOSFET、BJT、IGBT、二極管、電阻器等）設計
• 豐富的測試庫，無需編程即可快速輕鬆地完成測試設置和執行
• 內置數據分析工具，可快速分析參數數據
• 支持 Keithley 2600B 係列、2400 係列、2651A 係列和 2657A 係列係統 SourceMeter SMU 儀器

集成階段

集成階段使用 ACS Standard Edition 軟件進行半自動晶圓測試，包括穩定的過程開發和晶圓級可靠性 (WLR)。該軟件可用於(yu) SMU-per-pin 係統級測試。ACS WLR 軟件提供以下好處：

• 全自動功能，可測試單個晶圓或整個暗盒
• 可實現靈活的測試設置和並行測試的軟件
• 可靠性測試模塊 (RTM) 符合 JEDEC 標準測試方法
• 支持創建定製的測試模塊/程序

生產(chan) 階段

ACS 標準版軟件還適用於(yu) 集成的機架式自動定製測試係統，用於(yu) 過程控製監控 (PCM)、晶圓驗收測試 (WAT) 和晶粒挑揀。ACS Standard 軟件中內(nei) 置的許多工具和功能可增強 設備的自動檢定能力：

• 晶圓和暗盒級自動化
• 將設備和測試映射到站點和子站點的測試圖
• 交互式探針台控製模式
• 單個或每個晶圓的 Keithley 數據文件