當今的模擬和功率半導體(ti) 技術（包括 GaN 和 SiC）要求進行參數測試，以便限度提高測量性能、支持廣泛的產(chan) 品組合以及限度降低測試成本。40 多年來，吉時利已經在關(guan) 鍵應用中解決(jue) 了這些問題以及其他重要挑戰，這些應用包括工藝整合、工藝控製監控、生產(chan) 芯片分類（例如，晶片驗收或已知的良好芯片測試），以及可靠性。帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 係列參數測試係統提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應用的出現和需求變化而不斷發展。S530 可進行高達 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進行高達 1100 V 的測試，與(yu) 競爭(zheng) 解決(jue) 方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接對接探測器和原有探頭卡重新使用的可選係統測試頭，支持汽車標準 IATF-16949 要求的係統級 ISO-17025 引腳校準，以及從(cong) 原有的 S600 和 S400 係統進行遷移的、最順暢的路徑，具有完整的數據關(guan) 聯性並提高了速度。540 參數測試係統是一個(ge) 全自動化的 48 引腳參數測試係統，適用於(yu) 高達 3kV 的功率半導體(ti) 器件和結構的晶片級測試。集成式 S540 已針對包括碳化矽 (SiC) 和氮化镓 (G......

吉時利自動化檢定套件 (ACS) 是靈活的交互式軟件測試環境，可用於(yu) 器件檢定、參數化測試、可靠性測試，甚至簡單的功能測試。ACS 支持各種吉時利儀(yi) 器和係統、硬件配置和測試設置，從(cong) 用於(yu) QA 實驗室的一些台式儀(yi) 器到集成且基於(yu) 機架的自動化測試係統。利用 ACS，用戶可使用自動硬件管理工具配置儀(yi) 器，並快速執行測試，無需具備編程知識。下載免費試用版軟件

開發和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全麵的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。 Keithley參數波形記錄儀(yi) （代替原晶體(ti) 管圖示儀(yi) ）支持所有的設備類型和測試參數。Keithley參數波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和高功率脈衝(chong) IV曲線測量。

半導體(ti) 器件的高速和低電流要求高質量、高性能的 I-V 和 C-V 信號開關(guan) 。 我們(men) 為(wei) 半導體(ti) 研發和生產(chan) 測試應用提供開關(guan) 解決(jue) 方案，其中主機可以支持多達 2,880 個(ge) 通道以及專(zhuan) 為(wei) 半導體(ti) 應用而設計的一係列矩陣卡。