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簡要描述：Edison功率模塊動態特性測試係統，主要用於(yu) 不同封裝功率模塊的動態參數特性測試，可兼顧電控單元以及To247單管的動態測試。可以同時完成單脈衝(chong) 、雙脈衝(chong) 以及短路測試等用戶測試條目。 Edison支持用戶進行遠程測試（需配VPN軟件及設備聯網），並可實時保存測試結果及波形數據。幫助客戶快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產(chan) 品性能。避坑指南：如何正確選擇功率器件動態參數測試係統開放免費測試名額：泰克半導體(ti) 開放實驗室
產品型號：廠商性質：代理商更新時間：2023-12-07訪 問 量：1008相關(guan) 文章ARTICLES
詳細介紹
*測不準——碳化矽SiC動態特性導致di/dt加快，電流采樣方案需要具備納秒級的解析度，否則測不準器件的動態特性
*測不全——碳化矽SiC高速開關(guan) ，測試回路雜感高會(hui) 帶來的電壓尖峰，在器件工作電壓範圍內(nei) 測不全
*可靠性差——測試驅動電路需要具備的抗EMI力，否則易損壞被測器件，導致設備可靠性差
Edison功率模塊動態特性測試係統可沉著應對SiC動態特性差異帶來的測試難點。創新性層疊母排和電容結構設計，測試主回路雜感低至 6nH（Performance版）。高速、高頻、高可靠、高共模瞬變抗擾度（CMTI）使SiC驅動器性能業(ye) 界。使用泰克公司推出的新五係高分辨率示波器和專(zhuan) 門用於(yu) 高壓差分信號測試的光隔離探頭，為(wei) 三代半導體(ti) 器件動態特性表征帶來更高帶寬和更高測試精度。
10k短路電流測試能力，放心探索產(chan) 品極限。
實測工況：直流母線電壓為(wei) 800V ，短路脈寬2.8us，開通電阻20Ω，關(guan) 斷電阻20Ω。
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